我們的 干擾發(fā)射 和 抗干擾性 EMC測量技術(shù)以及IC測試系統主要用于開(kāi)發(fā)階段,并且在全球范圍內都有需求。
品牌朗格langer MV-Technik | 有效期至長(cháng)期有效 | 最后更新2022-05-27 15:02 |
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Langer EMV-Technik處于EMC領(lǐng)域的研究,開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)的最前沿。通過(guò)EMC實(shí)驗研討會(huì )和EMC研討會(huì ),我們?yōu)榭蛻?hù)提供了全面的知識。
我們的 干擾發(fā)射 和 抗干擾性 EMC測量技術(shù)以及IC測試系統主要用于開(kāi)發(fā)階段,并且在全球范圍內都有需求。
產(chǎn)品展示
PCB抗擾度
測量系統和EMC工具,用于進(jìn)行組件和設備的抗擾性測試和分析
PCB發(fā)射
在開(kāi)發(fā)階段用于組件和設備排放分析的測量系統和EMC工具
測量和校準站
測量和校準站用于校準EMC測量?jì)x器并確定連接器的EMC參數。
教學(xué)與培訓測量技術(shù)
EMC實(shí)驗的模型裝配
IC測量技術(shù)
借助IC(集成電路)測試系統,開(kāi)發(fā)人員可以在特定干擾(傳導和輻射)或其輻射期間測試電路的行為。該IC在運行中經(jīng)過(guò)了測試。
E1是一組EMC工具,用于在開(kāi)發(fā)階段抑制印刷電路板中的EMI。開(kāi)發(fā)人員可以使用E1集快速識別突發(fā)和ESD干擾的原因。這使開(kāi)發(fā)人員可以設計適當的措施來(lái)解決干擾的原因。它也可以用來(lái)測試所采取措施的有效性。E1測試裝置很小,可輕松安裝在開(kāi)發(fā)人員的桌子上。E1集用戶(hù)手冊介紹了EMC機制,并詳細描述了用于抑制印刷電路板中干擾的基本測量策略。E1集包括一個(gè)發(fā)生器,用于產(chǎn)生突發(fā)和ESD干擾。
供貨范圍
· 1倍SGZ 21,脈沖發(fā)生器
· 1倍BS 02,磁場(chǎng)源
· 1倍ES 00,電場(chǎng)源
· 1倍ES 01,電場(chǎng)源
· 1倍ES 02,電場(chǎng)源
· 1倍E1 acc,配件
· 1倍NT FRI EU,電源裝置
· 1倍E1案例,系統案例
· 1倍E1 m,E1設置用戶(hù)手冊
P1 set
P23 set
P11t set
P12t set
CAN 100 set
CAN 100 A01 set
LIN 100 set
BD 11
BD 06B
BD 01B
BD 01E
ESA1 set
HFW 21 set
Z23-1 set
Z23-2 set
NNB 21 set
PA 203 SMA套件
PA 303 BNC套件
PA 303 SMA套件
PA 303 N套
PA 306 SMA套
ICS 105
FLS 106 IC
FLS 106 PCB
SUH 106
LF1
MFA-K 0.1-12 set
A100-1 set
XF-R 100-1
迷你突發(fā)場(chǎng)發(fā)生器特別小。它們用于在開(kāi)發(fā)階段識別和消除電子裝配中的薄弱環(huán)節。它們會(huì )在其尖端產(chǎn)生脈沖串或ESD場(chǎng)。微型脈沖發(fā)生器用手在其被測設備(例如印刷電路板)上靠近其表面的方向上引導。弱點(diǎn)會(huì )響應脈沖場(chǎng),并且會(huì )發(fā)生故障。突發(fā)場(chǎng)發(fā)生器可以應用于電路板設計的選定單個(gè)部分,以識別潛在的弱點(diǎn)(接地系統中的故障,單個(gè)走線(xiàn)或IC引腳)。分開(kāi)的磁耦合(P11和P12)和電耦合(P21)允許針對相應的弱點(diǎn)最佳地調整EMC對策。
供貨范圍
· 1倍P11,迷你爆發(fā)場(chǎng)發(fā)生器(B)
· 1倍P12,迷你爆發(fā)場(chǎng)發(fā)生器(B)
· 1倍P21,迷你爆發(fā)場(chǎng)發(fā)生器(E)
· 1倍P1機殼,Mini Burst Field Generators機殼
· 1倍P1 m,P1設置用戶(hù)手冊
· 朗格langer MV-Technik工具E1
工作日
9:00-18:00