品牌langer-emv | 有效期至長(cháng)期有效 | 最后更新2021-08-16 11:17 |
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漢達森專(zhuān)業(yè)銷(xiāo)售langer-emv探頭XFS系列
XFS-R 3-1
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掃描儀探頭 30 MHz 至 6 GHz
XFS-R 3-1 掃描儀探測器設計用于在組件上直接高分辨率測量射頻磁場(chǎng),例如圍繞引腳和 IC 外箱、導路、脫鉤電容器和 EMC 組件。
XFS-B 3-1
掃描儀探頭 30 MHz 至 6 GHz
XFS-B 3-1磁場(chǎng)掃描儀探測器的測量線(xiàn)圈正交地排列在探針軸上。通過(guò)垂直定位探頭,測量線(xiàn)圈直接接觸打印電路板的表面。這允許在印刷電路野豬表面的地方使用。
漢達森 祁佳強177*4453*6447
XFS-E 10
掃描儀探頭 30 MHz 至 6 GHz
XFS-E 10 掃描儀探頭中的電極寬度約 0.2 毫米。有了探針,甚至最小的電子場(chǎng)源也可以定位,例如導電寬度為 0.1 mm 的路徑或多固定 IC 上的單個(gè)引腳。要測量,電子場(chǎng)探頭被定位到對象上。
XFS-E 09s
掃描儀探頭 30 MHz 至 6 GHz 漢達森 祁佳強177*4453*6447
XFS-E 09s 掃描儀探測器頭上的電極檢測電子場(chǎng),例如,這些電場(chǎng)在 IC 表面上方脫鉤。探測器的分辨率允許在總成上方距離為 0.5 mm 到 10 mm 的測量。用于測量,電子場(chǎng)探頭放置在目標上。
漢達森專(zhuān)業(yè)銷(xiāo)售langer-emv探頭XFS系列工作日
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