客服熱線(xiàn)：
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| 品牌langer-emv | 有效期至長(cháng)期有效 | 最后更新2021-08-16 11:26 |
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H 場(chǎng)探針 LFS-B 3 的測量線(xiàn)圈直面位于軸上。垂直使用探針尖端可確保其直接放置在要測量的組件或設備上。
這允許在通常難以訪(fǎng)問(wèn)的印刷電路板表面的位置使用，例如在交換控制器的大型組件之間。
LFS-B 3 是一種被動(dòng)近場(chǎng)探針，用于掃描儀，用于測量開(kāi)發(fā)過(guò)程中的磁場(chǎng)。LFS-B 3 檢測從測量對象發(fā)射的磁場(chǎng)線(xiàn) 90°。橫向進(jìn)入探針的磁場(chǎng)線(xiàn)未被檢測到。近場(chǎng)探針體小且方便。它有一個(gè)電流衰減護套，因此，電屏蔽。它可以連接到頻譜分析儀或具有 50 Ω輸入的示波器。H 場(chǎng)探針的內部終止電阻為 50 Ω。
| 頻率范圍 | 100 kHz...50 MHz |
| 分辨率 | ≈ 2 毫米 |
| 探頭尺寸 | • ≈ 4 毫米 |
| 連接器 - 輸出 | SMB， 男性， 千斤頂 |
| 頻率響應 [dBμV] / [dBμA/m] | ![頻率響應 [dBμV] / [dBμA/m]](https://www.langer-emv.de/fileadmin/Bilder300/Disturbance%20emission_near%20field%20probe_LFS-B%203_frequency%20response_en_wGM.png?v=1629010834946) |
| H 字段校正曲線(xiàn) [dB+/m] / [dBμV] | ![H 字段校正曲線(xiàn) [dB+/m] / [dBμV]](https://www.langer-emv.de/fileadmin/Bilder300/Disturbance%20emission_near%20field%20probe_LFS-B%203_H-field%20correction%20curve_en_wGM.png?v=1629010834946) |
| 當前修正曲線(xiàn) [dB+A] / [dBμV] | ![當前修正曲線(xiàn) [dB+A] / [dBμV]](https://www.langer-emv.de/fileadmin/Bilder300/Disturbance%20emission_near%20field%20probe_LFS-B%203_Current%20correction%20curve_en_wGM.png?v=1629010834946) |
| 測量原理 |  |
工作日
9:00-18:00
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