德國sartorius分析實(shí)驗室天平
每一款賽多利斯天平都具有高質(zhì)量、高價(jià)值和一致性的特點(diǎn)——無(wú)論稱(chēng)量什么。全新Entris® II 天平始終是正確的選擇。依托近150年的德國工程專(zhuān)業(yè)知識，Entris® II 具有出色的價(jià)值，其兩條產(chǎn)品線(xiàn)，可以滿(mǎn)足您找到特定稱(chēng)量需求的天平
仲宇
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分析實(shí)驗室天平是實(shí)驗室中使用最多的天平。其最大量程介于60 g至520 g之間，可讀性為0.1 mg，通常用于稱(chēng)量小樣品。有時(shí)，可讀性為0.01 mg或10 µg的實(shí)驗室天平也稱(chēng)為分析天平。為了滿(mǎn)足您的特定應用要求，我們提供專(zhuān)門(mén)設計的稱(chēng)盤(pán)、樣品支架和軟件應用程序以簡(jiǎn)化稱(chēng)量過(guò)程和實(shí)驗室工作流程。
為何使用分析天平？
分析實(shí)驗室天平是實(shí)驗室中使用最多的天平。其最大量程介于60 g至520 g之間，可讀性為0.1 mg，通常用于稱(chēng)量小樣品。有時(shí)，可讀性為0.01 mg或10 µg的實(shí)驗室天平也稱(chēng)為分析天平。為了滿(mǎn)足您的特定應用要求，我們提供專(zhuān)門(mén)設計的稱(chēng)盤(pán)、樣品支架和軟件應用程序以簡(jiǎn)化稱(chēng)量過(guò)程和實(shí)驗室工作流程
產(chǎn)品類(lèi)型：
Cubis® II分析天平
Cubis® II分析天平
Quintix®分析天平
Entris® II分析天平
Practum®分析天平
分析天平與精密天平
分析天平比精密天平更加精確。分析天平的可讀性為0.1 mg或0.0001 g，而精密天平的可讀性通常為≥1 mg或≥0.001 g。因此，分析天平的可讀性至少是精密天平的10倍。
分析天平服務(wù)
在所有的工業(yè)細分領(lǐng)域對實(shí)驗室數據合規性、可靠性和準確性的需求正在穩步提高。我們的服務(wù)通過(guò)認證和許可，將在整個(gè)生命周期內支持并維護您的實(shí)驗室稱(chēng)重設備。我們能夠保證設備的使用壽命，縮短停機時(shí)間以限制生產(chǎn)損失，并助您以更快的速度獲得可重復的結果。
實(shí)驗室天平的常見(jiàn)問(wèn)題
什么是分析天平？
分析天平是靈敏的實(shí)驗室儀器，用于準確測量質(zhì)量。其可讀性為0.1 mg。有時(shí)也包括可讀性為0.01 mg的半微量天平。通常，分析天平均配備防風(fēng)罩，以防止稱(chēng)重過(guò)程受氣流影響。
分析天平的用途是什么？分析天平有哪些應用領(lǐng)域？
分析天平不僅具有高測量精度，且測量時(shí)間短，僅需幾秒鐘。因此，它們廣泛應用于許多實(shí)驗室的常規測量。例如，用于差重稱(chēng)量程序、總計、平均和填料應用，或通常用于后續分析的樣品制備。
為什么分析天平更加準確？
分析天平的可讀性為0.1 mg，而精密天平的可讀性通常為≥1 mg。因此，分析天平的可讀性至少是精密天平的10倍。
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