KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042參數簡(jiǎn)介
王新宇
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KARL DEUTSCH自1949公司成立以來(lái)，一直致力于研發(fā)和生產(chǎn)無(wú)損檢測儀器和設備，是個(gè)傳統的家族企業(yè)。產(chǎn)品包括便攜式儀器，臺式儀器， 探頭和滲透裂紋檢測劑。典型的檢測任務(wù)是超聲波焊縫檢測，鑄件缺陷檢驗，用磁粉或滲透方法對鍛件裂紋檢測，軌道交通和航空安全系統中的部件檢測，以及壁厚和涂層厚度測量。
KARL DEUTSCH涂層測厚儀(帶探頭)LEPTOSKOP 2042：
大型圖形顯示48毫米×24毫米，帶照明
校準選項：
出廠(chǎng)前校準，立刻準備測量
校準未知涂層
零點(diǎn)校準
未涂覆基材之一，多箔校準
涂層材料校準
校準數據可以單獨存儲在單獨的校準文件，并可以重新裝載
可選的顯示模式，以獲得適應測量任務(wù)
輸入和監控限制
Windows下讀數存儲，方便文件管理
可用的PC軟件EasyExport和ICOM
多達999個(gè)讀數統計評估
最小值，最大值，平均值，讀數，標準差，監測極限
局部厚度和平均涂層厚度（DINEN ISO2808）
技術(shù)參數：
串行接口：將數據傳輸到RS232或USB瑗緣ww王王
電源：通過(guò)電池，USB或電源裝置
測量范圍：0 -20000微米（取決于探頭）
測量速率：高達每秒2讀數
存儲：最大9999，讀數高達140文件
測量不確定度（校準后）
涂層厚度<100微米：讀數+/-1微米的1％
涂層厚度>100微米：讀數+/-1微米的1..3％
涂層厚度>1000微米：讀數+/-10微米的3..5％
涂層厚度> 10000微米：讀數+/- 100微米的5％
型號：
2442.100探頭
2442.110探頭
2442.120探頭
2442.130探頭
2442.140探頭
2442.200雙極探頭
2442.300微探探頭
2442.310微型探頭
2442.320微型探頭
2442.330微型探頭
2442.340微型探頭
2442.350微型探頭
2442.410微型探頭
2632.002微型探頭
KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042參數簡(jiǎn)介
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